日韩精品无码中文字幕一区二区,精品精品国产自在97香蕉 http://www.huclonglong.cn ICT在線測(cè)試儀 FCT功能測(cè)試儀 SMT首件測(cè)試儀 Wed, 11 Jun 2025 04:07:22 +0000 zh-Hans hourly 1 https://wordpress.org/?v=6.8.1 http://www.huclonglong.cn/wp-content/uploads/2021/12/cropped-未標(biāo)題-1-1-1-32x32.png 行業(yè)千問(wèn) – PTI | 深圳市派捷電子科技有限公司 http://www.huclonglong.cn 32 32 ICT測(cè)試和首件檢測(cè)的區(qū)別 http://www.huclonglong.cn/8529.html Wed, 11 Jun 2025 04:07:22 +0000 http://www.huclonglong.cn/?p=8529 在SMT(表面貼裝技術(shù))生產(chǎn)制造里,ICT測(cè)試和首件檢測(cè)區(qū)別顯著,具體如下:

一、定義與目的

  • ICT測(cè)試:全稱(chēng)In – Circuit Test(在線測(cè)試 ),通過(guò)測(cè)試探針接觸PCB板測(cè)試點(diǎn),檢查電路通斷、電壓電流等電氣性能,識(shí)別元器件漏裝、錯(cuò)裝、參數(shù)偏差及線路板開(kāi)短路等故障 。核心是對(duì)電路板電氣性能全方位檢測(cè),保障單板功能基礎(chǔ)。
  • 首件檢測(cè):正式批量生產(chǎn)前,對(duì)首件產(chǎn)品(首塊貼裝好元器件待焊接或焊接后的電路板 )全面檢測(cè),驗(yàn)證生產(chǎn)條件(如設(shè)備、工藝、物料等 )是否正確,防止批量性質(zhì)量問(wèn)題。重點(diǎn)是提前攔截生產(chǎn)初始階段因各種因素(如換線、換料、設(shè)備調(diào)整 )引發(fā)的錯(cuò)誤,是預(yù)防批量不良的關(guān)鍵防線。

二、測(cè)試時(shí)機(jī)與場(chǎng)景

  • ICT測(cè)試:一般在SMT焊接工序(如回流焊、波峰焊 )完成后,處于PCBA(印刷電路板組裝 )生產(chǎn)流程中后段,對(duì)已焊接好的電路板進(jìn)行電氣性能篩查,屬于量產(chǎn)階段的常規(guī)檢測(cè)環(huán)節(jié),用于把控每塊板的質(zhì)量 。
  • 首件檢測(cè):在以下場(chǎng)景執(zhí)行,處于生產(chǎn)啟動(dòng)或變更節(jié)點(diǎn):
    • 新訂單/新機(jī)種首次生產(chǎn)時(shí);
    • 更換操作者、設(shè)備(如貼片機(jī)換料、調(diào)整鋼網(wǎng) )、工藝裝備(如更換夾具 )后;
    • 更改技術(shù)條件、工藝方法、工藝參數(shù),或采用新材料/材料代用后。

三、測(cè)試內(nèi)容與方法

  • ICT測(cè)試
    • 內(nèi)容:聚焦電氣性能,檢測(cè)電阻、電容、電感等元器件參數(shù)值,驗(yàn)證電路連通性(有無(wú)開(kāi)路、短路 ),以及二極管、三極管、集成塊等器件的功能邏輯(部分針床式ICT可測(cè) ) 。
    • 方法:依賴(lài)針床/飛針測(cè)試設(shè)備,針床式需制作專(zhuān)用夾具(與電路板測(cè)試點(diǎn)匹配 ),飛針式用可移動(dòng)探針代替針床;通過(guò)施加微小電壓、電流,采集數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)比判斷是否合格 。
  • 首件檢測(cè)
    • 內(nèi)容:更側(cè)重生產(chǎn)條件驗(yàn)證,涵蓋:
      • 物料核對(duì):檢查元器件型號(hào)、規(guī)格、絲印、方向、極性等是否與BOM(物料清單 )一致,有無(wú)錯(cuò)件、漏件、反件;
      • 焊接質(zhì)量:通過(guò)AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) )、人工目檢或X – Ray(針對(duì)BGA等隱蔽焊點(diǎn) ),查看焊點(diǎn)外觀(如是否橋連、虛焊、立碑 );
      • 工藝合規(guī)性:確認(rèn)錫膏印刷質(zhì)量(如厚度、偏移 )、元器件貼裝精度,以及生產(chǎn)設(shè)備參數(shù)(如貼片機(jī)吸嘴、回流焊溫度曲線 )是否符合工藝要求 。
    • 方法:靈活多樣,可組合使用:
      • 人工目檢 + 萬(wàn)用表/ LCR表(簡(jiǎn)易場(chǎng)景,手動(dòng)測(cè)量關(guān)鍵元器件參數(shù)、核對(duì)物料 );
      • AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(通過(guò)圖像識(shí)別判斷元器件貼裝、焊接外觀問(wèn)題 );
      • 首件測(cè)試系統(tǒng)(集成BOM導(dǎo)入、自動(dòng)采集數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)對(duì)比,如關(guān)聯(lián)LCR、AOI數(shù)據(jù) );
      • X – Ray檢測(cè)(針對(duì)BGA等焊點(diǎn)隱蔽的元器件,透視內(nèi)部焊接質(zhì)量 ) 。

四、測(cè)試特點(diǎn)與作用

  • ICT測(cè)試
    • 特點(diǎn)
      • 全面性:覆蓋電路板大部分元器件與電路網(wǎng)絡(luò),能檢測(cè)電性參數(shù)、焊接連通性;
      • 效率高:量產(chǎn)階段測(cè)試速度快,適配流水線批量檢測(cè);
      • 依賴(lài)治具:針床式需定制夾具(開(kāi)發(fā)周期、成本較高 ),飛針式雖無(wú)需夾具但測(cè)試速度慢于針床 。
    • 作用:篩選焊接不良、元器件參數(shù)異常等問(wèn)題,是PCBA功能測(cè)試前的基礎(chǔ)電氣檢測(cè),及時(shí)攔截單板電氣故障,減少流入后工序的不良品 。
  • 首件檢測(cè)
    • 特點(diǎn)
      • 預(yù)防性:提前驗(yàn)證生產(chǎn)要素(人、機(jī)、料、法 )是否正確,從源頭降低批量風(fēng)險(xiǎn);
      • 靈活性:檢測(cè)方法多樣,可根據(jù)產(chǎn)品復(fù)雜度、生產(chǎn)條件組合選擇;
      • 人工參與度高:簡(jiǎn)易場(chǎng)景依賴(lài)人工核對(duì),復(fù)雜場(chǎng)景結(jié)合自動(dòng)化設(shè)備,但核心是對(duì)生產(chǎn)首件的全方位驗(yàn)證 。
    • 作用:防止因物料錯(cuò)漏、設(shè)備參數(shù)錯(cuò)誤、工藝偏差等導(dǎo)致的批量報(bào)廢,是SMT生產(chǎn)“事前控制”的關(guān)鍵手段,保障產(chǎn)線穩(wěn)定與產(chǎn)品一致性 。

五、成本與適用場(chǎng)景

  • ICT測(cè)試
    • 成本:針床式需投入夾具開(kāi)發(fā)成本(時(shí)間、費(fèi)用 ),飛針式設(shè)備成本高但夾具成本低;量產(chǎn)階段單塊板測(cè)試成本低,適合大規(guī)模生產(chǎn) 。
    • 適用場(chǎng)景:已量產(chǎn)機(jī)種的常規(guī)電氣檢測(cè),尤其適合元器件密集、電路復(fù)雜的電路板,高效排查焊接與元器件電氣故障 。
  • 首件檢測(cè)
    • 成本:主要是人力、時(shí)間成本(如人工核對(duì)、設(shè)備調(diào)試驗(yàn)證 ),若用自動(dòng)化首件系統(tǒng),前期需投入設(shè)備成本,但可長(zhǎng)期降低因批量不良的損失 。
    • 適用場(chǎng)景:生產(chǎn)啟動(dòng)、變更(換線、換料、改工藝 )時(shí)的必做環(huán)節(jié),所有SMT產(chǎn)線都需執(zhí)行,是保障批次質(zhì)量的基礎(chǔ)防線 。

簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),ICT測(cè)試是量產(chǎn)中對(duì)電路板電氣性能的“全面體檢”,首件檢測(cè)是生產(chǎn)初始對(duì)“生產(chǎn)條件正確性”的“把關(guān)驗(yàn)證”;ICT聚焦單板電氣質(zhì)量,首件檢測(cè)聚焦批次生產(chǎn)風(fēng)險(xiǎn)預(yù)防,二者共同保障SMT生產(chǎn)的品質(zhì)與效率 。

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ICT測(cè)試誤報(bào)率產(chǎn)生的原因 http://www.huclonglong.cn/8525.html Wed, 11 Jun 2025 03:40:48 +0000 http://www.huclonglong.cn/?p=8525 ICT(In – Circuit Test,在線測(cè)試)誤報(bào)率受多種因素影響,以下從治具、程序、系統(tǒng)與環(huán)境、PCB 本身等方面詳細(xì)說(shuō)明:

  1. 治具原因
    • 探針問(wèn)題:測(cè)試探針鉆孔不準(zhǔn),會(huì)使測(cè)試探針點(diǎn)與 PCB 上測(cè)試點(diǎn)接觸不良;測(cè)試點(diǎn)選取不當(dāng),也易造成接觸問(wèn)題。另外,探針使用久了出現(xiàn)磨損,同樣會(huì)影響接觸效果,引發(fā)誤報(bào)。比如探針磨損后,接觸電阻改變,可能導(dǎo)致測(cè)試信號(hào)異常。
    • 壓棒分布不均:治具天板上壓棒分布不均衡,會(huì)讓 PCB 受力不平穩(wěn),使得部分探針點(diǎn)接觸不良,進(jìn)而出現(xiàn)誤測(cè)。
  2. 程序原因
    • 新機(jī)種程序調(diào)試不足:新機(jī)種上線時(shí),程序調(diào)試后未經(jīng)過(guò)大量測(cè)試驗(yàn)證,程序可能存在漏洞,容易引發(fā)誤報(bào) 。
    • 參數(shù)設(shè)定錯(cuò)誤:程序中測(cè)試步驟的調(diào)試模式、延遲時(shí)間、測(cè)試針點(diǎn)、標(biāo)準(zhǔn)值等參數(shù)設(shè)置有誤,會(huì)使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確,造成誤測(cè)。例如標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)定偏差,會(huì)讓正常元件被誤判為不良。
  3. ICT系統(tǒng)和環(huán)境原因
    • 硬件故障或參數(shù)變化:ICT 硬件發(fā)生故障,如電路板損壞、接口接觸不良等,或者硬件參數(shù)變動(dòng),會(huì)讓測(cè)試時(shí)不穩(wěn)定,引發(fā)誤報(bào)。像硬件參數(shù)改變后,測(cè)試電壓、電流等偏離正常范圍,就會(huì)影響測(cè)試結(jié)果。
    • 排線問(wèn)題:ICT 治具專(zhuān)家排線使用過(guò)久,接觸電阻變大,會(huì)使信號(hào)傳輸受影響,造成測(cè)試誤差和誤報(bào)。
    • 環(huán)境因素變化:測(cè)試環(huán)境的溫度、濕度、磁場(chǎng)等改變,可能影響電子元件性能和信號(hào)傳輸。比如溫度過(guò)高或過(guò)低,會(huì)使元件參數(shù)漂移;強(qiáng)磁場(chǎng)干擾,會(huì)讓測(cè)試信號(hào)出現(xiàn)偏差,從而導(dǎo)致誤報(bào)。
  4. PCB本身原因
    • 測(cè)試點(diǎn)污染:PCB 過(guò)錫爐后,測(cè)試點(diǎn)沾附較多松香,或者維修后的 PCB 測(cè)試點(diǎn)處有膠,會(huì)使探針和測(cè)試點(diǎn)接觸不好,產(chǎn)生誤報(bào) 。
    • PCB 本身缺陷:PCB 存在銅箔斷裂、Via Hole(過(guò)孔)與銅箔之間開(kāi)路等問(wèn)題,會(huì)使測(cè)試時(shí)出現(xiàn)異常,被誤判為故障 。 此外,PCB 上元器件漏裝、焊接不良、錯(cuò)件、反裝等,也會(huì)讓 ICT 測(cè)試誤報(bào),因?yàn)檫@些情況會(huì)使測(cè)試值偏離正常范圍 。
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